Elektronikos dalys : SN54BCT8374AFK

Gamintojas : Texas Instruments

Pakuotė :

Pin :

Aprašymas : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Temperatūra : Min °C | Maks °C

Datasheet : SN54BCT8374AFK PDF

• SN54BCT8373A
• SN54BCT8373AFK
• SN54BCT8373AJT
• SN54BCT8374A
• SN54BCT8374AFK
• SN54BCT8374AJT
• SN54BCT8374A_08